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鍍層測厚儀的原理和優點

釋出時間▩↟◕↟:2017-12-14   點選次數▩↟◕↟:1878次
鍍層厚度測量已成為加工工業▩▩↟、表面工程質量檢測的重要環節✘☁••,是產品達到優等質量標準的必要手段↟▩↟。為使產品化✘☁••,我國出口商品和涉外專案中✘☁••,對鍍層厚度有了明確要求↟▩↟。鍍層測厚儀採用磁性測厚方法✘☁••,可無損傷檢測磁性金屬基體(如▩↟◕↟:鐵▩▩↟、鋼▩▩↟、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆層的厚度(如▩↟◕↟:鋅▩▩↟、鋁▩▩↟、鉻▩▩↟、銅▩▩↟、橡膠▩▩↟、油漆等)↟▩↟。儀器廣泛地應用於製造業▩▩↟、金屬加工業▩▩↟、化工業▩▩↟、商檢等檢測領域↟▩↟。是材料保護專業*的儀器↟▩↟。 鍍層測厚儀的工作原理▩↟◕↟: 鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上✘☁••,透過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來↟▩↟。測量鍍層等金屬薄膜的厚度✘☁••,因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右✘☁••,所以不會對樣品造成損壞↟▩↟。同時✘☁••,測量的也可以在10秒到幾分鐘內完成↟▩↟。測量的物件包括塗層▩▩↟、鍍層▩▩↟、敷層▩▩↟、貼層▩▩↟、化學生成膜等(在有關國家和標準中稱為覆層(coating))↟▩↟。 鍍層測厚儀的優點介紹▩↟◕↟: 1. 測量速度快2. 精度高精度✘☁••,可達到1-2%3. 穩定性高4. 功能▩▩↟、資料▩▩↟、操作▩▩↟、顯示全部是中文測量方法5▩▩↟、覆層厚度的測量方法主要有▩↟◕↟:楔切法✘☁••,光截法✘☁••,電解法✘☁••,厚度差測量法✘☁••,稱重法✘☁••,X射線熒光法✘☁••,β射線反向散射法✘☁••,電容法▩▩↟、磁性測量法及渦流測量法等↟▩↟。這些方法中前五種是有損檢測✘☁••,測量手段繁瑣✘☁••,速度慢✘☁••,多適用於抽樣檢驗↟▩↟。6▩▩↟、X射線和β射線法是無接觸無損測量✘☁••,但裝置複雜昂貴✘☁••,測量範圍較小↟▩↟。因有放射源✘☁••,使用者必須遵守射線防護規範↟▩↟。X射線法可測極薄鍍層▩▩↟、雙鍍層▩▩↟、合金鍍層↟▩↟。β射線法適合鍍層和底材原子序號大於3的鍍層測量↟▩↟。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時採用↟▩↟。

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