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淺析X熒光光譜儀XRF的優勢所在

釋出時間▩╃╃✘:2018-12-10   點選次數▩╃╃✘:958次
   淺析X熒光光譜儀XRF的優勢所在
  X熒光光譜儀XRF整套技術✘☁,含多道分析₪╃✘•│、電氣控制₪╃✘•│、機械結構和分析軟體◕│✘│₪。可用於成分分析₪╃✘•│、礦物分析₪╃✘•│、貴金屬分析和鍍層測厚分析等◕│✘│₪。
  X熒光光譜儀XRF相對於市場同類儀器✘☁,在成分含量分析演算法上有以下優勢▩╃╃✘:
  1₪╃✘•│、一鍵式自動元素識別✘☁,識別準確率>95%◕│✘│₪。元素X熒光特徵峰比較複雜✘☁,一般的自動識別很差✘☁,往往需要人工識別◕│✘│₪。
  2₪╃✘•│、自動識別逃逸峰₪╃✘•│、合峰◕│✘│₪。一般的沒有此識別功能✘☁,而是靠人工經驗去扣除◕│✘│₪。
  3₪╃✘•│、利用卡爾曼演算法對重疊峰進行自動分離◕│✘│₪。國內光譜對重疊峰分離多還是採用經驗法扣除◕│✘│₪。
  4₪╃✘•│、基本引數法(FP法)一直是XRF研究的難題✘☁,國內能真正做好FP法的幾乎沒有✘☁,雖然很多廠商宣稱自己的軟體實現了FP法✘☁,但往往只能用於大致的定量分析✘☁,根本達不到要求◕│✘│₪。而我們的FP演算法在無標樣情況下能達到主要元素相對誤差在1%以內✘☁,少量標樣就能實現大部分元素相對誤差在2%以內◕│✘│₪。
  5₪╃✘•│、理論係數法◕│✘│₪。國內X熒光光譜儀XRF多是用經驗係數法✘☁,需要大量標樣◕│✘│₪。我們在FP法基礎上✘☁,採用係數校正數學模型✘☁,開發出可以實用的理論係數法✘☁,綜合zui接近FP法✘☁,但更適合於輕基體樣品分析◕│✘│₪。
  6₪╃✘•│、化合物分析◕│✘│₪。目前能量色散XRF對硫(S)之前的元素很難檢測✘☁,一般往往忽略了輕元素對定量分析的影響導致有時誤差較大◕│✘│₪。因為FP法的實現✘☁,考慮了吸收和增強效應✘☁,對化合物分析結果有不可比擬的優勢✘☁,在地質₪╃✘•│、礦產₪╃✘•│、冶金等行業有更好的應用◕│✘│₪。
  7₪╃✘•│、模式識別功能◕│✘│₪。普遍廠商的X熒光光譜儀XRF不帶樣品自動識別功能✘☁,只能用於已知材料的定量測試◕│✘│₪。對於未知材料測試容易造成較大誤差◕│✘│₪。

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