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合金分析儀在各個行業的具體應用

釋出時間·▩•╃│:2021-04-19   點選次數·▩•╃│:602次
  合金分析儀是一種行動式儀器✘☁☁☁✘,只需準備少量樣品✘☁☁☁✘,即可迅速提供檢測結果✘↟。 合金成分的識別是常見的XRF應用之一:使用手持式分光器的合金分析儀通常能在1秒到2秒的短時間內識別合金品種✘↟。 使用手持式x射線熒光光譜儀(合金分析儀)進行材料成分的判別時✘☁☁☁✘,需要考慮的三個重要因素主要如下
 
  1.材料組成成分
 
  合金分析儀可定量分析元素週期表中90%以上的元素:從鎂元素到更重的元素. 這些可測定的元素覆蓋了商用合金中使用的大部分元素✘↟。 圖1顯示了常用合金元素的代表性的1檢出限✘↟。 XRF分析儀的這種檢測能力✘☁☁☁✘,根據得到的材料成分資訊✘☁☁☁✘,可以得到鋁合金✘╃、不鏽鋼✘╃、鉻鉬合金✘╃、多管道和凸緣材料✘╃、基於合金✘╃、青銅合金✘╃、其他各種銅合金✘╃、焊錫✘╃、鈦合金✘╃、工具鋼✘╃、鎳和鈷元素的眾多所謂“超合金”可以進行品牌匹配✘↟。
 
  手持式光譜儀合金分析儀不能直接檢測出比鎂輕的元素✘↟。 無法檢測的元素包括鋰✘╃、鈹✘╃、碳等合金元素✘↟。 這些元素包括不同的應用程式✘↟。
 
  2.合金分析儀的操作方案包括: (1)發射x射線;(2)X射線返回到檢測器; x射線熒光是一種表面檢測技術✘↟。 在一些輕合金中✘☁☁☁✘,例如鋁合金✘╃、XRF技術只能檢測樣品表面以下的數百微米的深度✘↟。 一些主要金屬✘☁☁☁✘,例如鐵✘╃、銅或XRF技術可檢測的樣品深度不大於100μm✘↟。 對於緻密的材料✘☁☁☁✘,例如金和鉛✘☁☁☁✘,只能檢測樣品表面以下幾十微米的深度✘↟。 這意味著在用x射線熒光技術進行檢查的情況下✘☁☁☁✘,如果材料的表面不正確表現材料整體的構成成分✘☁☁☁✘,則不能得到可靠的檢查資料✘↟。 表面汙染✘☁☁☁✘,例如油漆✘╃、保護層✘╃、鍍層✘☁☁☁✘,分析結果可能會大大歪曲✘↟。 同樣✘☁☁☁✘,噴砂✘╃、噴砂處理✘╃、研磨後殘留在表面的物質以及汙垢可能會影響材料成分的判別結果✘↟。 因此✘☁☁☁✘,在使用XRF技術檢查樣品之前✘☁☁☁✘,請務必清潔樣品✘↟。
 
  合金分析儀使用低功率的x射線管✘↟。 發射的x射線和返回的x射線都是低功率的✘☁☁☁✘,測量時必須使分析儀接近樣品✘↟。 理想的是使樣品直接接觸分析儀的測量窗✘↟。 如果樣品具有複雜的幾何形狀✘☁☁☁✘,則難以檢測✘☁☁☁✘,但分析儀的主體較窄✘☁☁☁✘,可以儘量接近斜面樣品✘↟。 例如✘☁☁☁✘,90度與管道焊接的法蘭✘↟。
 
  3.合金分析儀樣品表面溫度
 
  使用於XRF分析技術中的x射線的物理特性幾乎不會隨著樣本溫度的變化而變化✘↟。 另外✘☁☁☁✘,分析裝置的設計目標是不受環境條件變化的影響✘☁☁☁✘,始終發揮可靠的測定效能✘↟。 分析儀在-10 °C到50 °C的溫度範圍內工作時✘☁☁☁✘,不會發生熱漂移和效能下降✘↟。
 
  合金分析儀分析儀不經改造✘☁☁☁✘,樣品溫度達到約100 °C時可正常測定樣品✘↟。 超過該溫度時✘☁☁☁✘,作為分析儀窗的一部分的聚丙烯纖維薄膜容易破損✘↟。 向用戶提供高溫檢查時可使用的高溫墊圈✘↟。 該高溫墊片含有聚醯亞胺的窗✘☁☁☁✘,分析儀能夠測定出溫度高達315 °C的樣品✘↟。

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