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X-RAY膜厚分析儀儀器介紹
Thick800A是天瑞集多年的經驗•✘↟╃,專門研發用於鍍層行業的一款儀器•✘↟╃,可全自動軟體操作•✘↟╃,可多點測試•✘↟╃,由軟體控制儀器的測試點•✘↟╃,以及移動平臺·✘◕╃。是一款功能強大的儀器•✘↟╃,配上專門為其開發的軟體•✘↟╃,在鍍層行業中可謂大展身手·✘◕╃。
X-RAY膜厚分析儀應用領域
鐵基----□Fe/Zn,□Fe/Cu•✘↟╃,□Fe/Ni•✘↟╃,□Fe/Cu/Sn•✘↟╃,□Fe/Cu/Au•✘↟╃,□Fe/Cu/Ni•✘↟╃,
□Fe/Cu/Ni/Cr•✘↟╃, □Fe/Cu/Ni/Au•✘↟╃,□Fe/Cu/Ni/Ag
銅基-----□Cu/Ni•✘↟╃,□Cu/Ag•✘↟╃,□Cu/Au•✘↟╃,□Cu/Sn•✘↟╃,□Cu/Ni/Sn•✘↟╃,□Cu/Ni/Ag•✘↟╃,□Cu/Ni/Au•✘↟╃,□Cu/Ni/Cr
鋅基-----□Zn/Cu•✘↟╃,□Zn/Cu/Ag•✘↟╃,□Zn/Cu/Au
鎂鋁合金----□Al/Cu•✘↟╃,□Al/Ni•✘↟╃,□Al/Cu/Ag•✘↟╃,□Al/Cu/Au
塑膠基體----plastic/Cu/Ni•✘↟╃,plastic/Cu/Ni/Cr
應用優勢
1 快速•↟:一般測量一個樣品只需要30S~300S•✘↟╃,樣品可不處理或進行簡單處理;
2 無損•↟:物理測量•✘↟╃,不改變樣品性質;
3 準確•↟:對樣品可以精確分析;
4 直觀•↟:直觀的分析譜圖•✘↟╃,元素分佈一幕瞭然•✘↟╃,定性分析速度快;
5 環保•↟:檢測過程中不產生任何廢氣•◕、廢水·✘◕╃。
儀器配置
1 硬體•↟:主機壹臺•✘↟╃,含下列主要部件•↟:
(1) X光管 (2) 半導體探測器
(3) 放大電路 (4) 高精度樣品移動平臺
(5) 高畫質晰攝像頭 (6) 高壓系統
(7) 上照•◕、開放式樣品腔 (8)雙鐳射定位
(9) 玻璃遮蔽罩
2 軟體•↟:天瑞X射線熒光光譜儀FpThick分析軟體V1.0
3 計算機•◕、印表機各一臺
計算機(品牌•✘↟╃,P4•✘↟╃,液晶顯示屏)•◕、印表機(佳能•✘↟╃,彩色噴墨印表機)
4 資料•↟:使用說明書(包括軟體操作說明書和硬體使用說明書)•◕、出廠檢驗合格證明•◕、裝箱單•◕、保修單及其它應提供資料各一份·✘◕╃。
5 標準附件
準直孔•↟:0.1X1.0mm(已內置於儀器中)
引數規格
1 分析元素範圍•↟:S-U
2 同時可分析多達5層以上鍍層
3 分析厚度檢出限達0.005μm
4 多次測量重複性可達0.01μm
5 定位精度•↟:0.1mm
6 測量時間•↟:30s-300s
7 計數率•↟:1300-8000cps
8 Z軸升降範圍•↟:0-140mm
9 X/Y平臺可移動行程•↟:50mm(W)×50mm(D)
效能特點
1 滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求;
2 φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求;
3 高精度移動平臺可精確定位測試點•✘↟╃,重複定位精度小於0.005mm;
4 採用高度定位鐳射•✘↟╃,可自動定位測試高度;
5 定位鐳射精確定位光斑•✘↟╃,確保測試點與光斑對齊;
6 滑鼠可控制移動平臺•✘↟╃,滑鼠點選的位置就是被測點;
7 高解析度探頭使分析結果更加精準;
8 良好的射線遮蔽作用;
9 測試口高度敏感性感測器保護;
安裝要求•↟:
1 環境溫度要求•↟:15℃-30℃
2 環境相對溼度•↟:<70%
3 工作電源•↟:交流220±5V
4 周圍不能有強電磁干擾·✘◕╃。
質量保證
1. 乙方對所出售本合同所規定的儀器進行終身維修;
2. 軟體免費升級•↟:如有軟體升級•✘↟╃,乙方將免費提供軟體升級•✘↟╃,不再收取升級費用;
3. 保修條款
3.1. 儀器裝置自驗收合格之日起免費保修1年;
3.2. 免費保修期內•✘↟╃,維修相關費用全免;
3.3. 保修期結束後•✘↟╃,乙方為甲方提供維修服務的資費標準如下•↟:
交通費•◕、住宿費由甲方承擔;
資費標準•↟:硬體成本費用——按乙方時價計算
硬體運輸費——實報實銷
服務費——300元 / 人 / 天
人員交通費——實報實銷
人員住宿費用——¥200元/天
4. 技術服務的響應期限•↟:提供zui有效的技術服務•✘↟╃,在接到使用者故障資訊後•✘↟╃,4小時內響應;如有必要•✘↟╃,12~72個小時內派人上門維修和排除故障·✘◕╃。
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