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X光全自動鍍層膜厚儀

簡要描述↟✘:
X光全自動鍍層膜厚儀Thick 8000鍍層測厚儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設計的一款新型儀器╃│₪│。主要應用於↟✘:金屬鍍層的厚度測量│··✘•、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金│··✘•、鉑│··✘•、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測╃│₪│。

更新時間↟✘:2022-09-16

訪問量↟✘:528

廠商性質↟✘:經銷商

生產地址↟✘:

品牌自營品牌價格區間面議

X光全自動鍍層膜厚儀


儀器介紹

Thick 8000鍍層測厚儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設計的一款新型儀器╃│₪│。主要應用於↟✘:金屬鍍層的厚度測量│··✘•、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金│··✘•、鉑│··✘•、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測╃│₪│。
 

儀器配置                                            

1    硬體↟✘:主機壹臺╃◕·▩╃,含下列主要部件↟✘: 

(1)   X光管                 (2) 半導體探測器

(3) 放大電路                (4) 高精度樣品移動平臺

(5) 高畫質晰攝像頭            (6) 高壓系統

(7) 上照│··✘•、開放式樣品腔      (8)雙鐳射定位

(9) 玻璃遮蔽罩

2   軟體↟✘:天瑞X射線熒光光譜儀FpThick分析軟體V1.0

3   計算機│··✘•、印表機各一臺

計算機(品牌╃◕·▩╃,P4╃◕·▩╃,液晶顯示屏)│··✘•、印表機(佳能╃◕·▩╃,彩色噴墨印表機)

4   資料↟✘:使用說明書(包括軟體操作說明書和硬體使用說明書)│··✘•、出廠檢驗合格證明│··✘•、裝箱單│··✘•、保修單及其它應提供資料各一份╃│₪│。

X光全自動鍍層膜厚儀

引數規格

1分析元素範圍↟✘:硫(S)~鈾(U); 
2.同時檢測元素↟✘:zui多24個元素╃◕·▩╃,多達5層鍍層;
3.分析含量↟✘:一般為2ppm到99.9%;
4.鍍層厚度↟✘:一般在50μm以內(每種材料有所不同);
5.SDD探測器↟✘:解析度低至135eV;
6.先進的微孔準直技術↟✘:zui小孔徑達0.1mm,zui小光斑達0.1mm;
7.樣品觀察↟✘:配備全景和區域性兩個工業高畫質攝像頭; 
8.準直器↟✘:0.3×0.05mm│··✘•、Ф0.1mm│··✘•、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準直器組合; 
9.儀器尺寸↟✘:690(W)x 575(D)x 660(H)mm;
10.樣品室尺寸↟✘:520(W)x 395(D)x150(H)mm;
11.樣品臺尺寸↟✘:393(W)x 258 (D)mm;
12.X/Y/Z平臺移動速度↟✘:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s;
13.X/Y/Z平臺重複定位精度↟✘:小於0.1um;

效能特點

1.精密的三維移動平臺; 
2.的樣品觀測系統; 
3.先進的影象識別; 
4.輕鬆實現深槽樣品的檢測; 
5.四種微孔聚焦準直器╃◕·▩╃,自動切換; 
6.雙重保護措施╃◕·▩╃,實現無縫防撞; 
7.採用大面積高解析度探測器╃◕·▩╃,有效降低檢出限╃◕·▩╃,提高測試精度╃│₪│。

安裝要求↟✘:

1   環境溫度要求↟✘:15℃-30℃

2   環境相對溼度↟✘:<70%

3   工作電源↟✘:交流220±5V

4   周圍不能有強電磁干擾╃│₪│。

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