X光全自動鍍層膜厚儀

儀器介紹

Thick 8000鍍層測厚儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設計的一款新型儀器╃│₪│。主要應用於↟✘：金屬鍍層的厚度測量│··✘•、電鍍液和鍍層含量的測定；黃金│··✘•、鉑│··✘•、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測╃│₪│。
 

儀器配置                                            

1    硬體↟✘：主機壹臺╃◕·▩╃，含下列主要部件↟✘： 

(1)   X光管                 (2) 半導體探測器

(3) 放大電路                (4) 高精度樣品移動平臺

(5) 高畫質晰攝像頭            (6) 高壓系統

(7) 上照│··✘•、開放式樣品腔      (8）雙鐳射定位

(9) 玻璃遮蔽罩

2   軟體↟✘：天瑞X射線熒光光譜儀FpThick分析軟體V1.0

3   計算機│··✘•、印表機各一臺

計算機（品牌╃◕·▩╃，P4╃◕·▩╃，液晶顯示屏）│··✘•、印表機（佳能╃◕·▩╃，彩色噴墨印表機）

4   資料↟✘：使用說明書（包括軟體操作說明書和硬體使用說明書）│··✘•、出廠檢驗合格證明│··✘•、裝箱單│··✘•、保修單及其它應提供資料各一份╃│₪│。

X光全自動鍍層膜厚儀

引數規格

1．分析元素範圍↟✘：硫（S）～鈾（U）； 
2.同時檢測元素↟✘：zui多24個元素╃◕·▩╃，多達5層鍍層；
3.分析含量↟✘：一般為2ppm到99.9%；
4.鍍層厚度↟✘：一般在50μm以內（每種材料有所不同）；
5.SDD探測器↟✘：解析度低至135eV；
6.先進的微孔準直技術↟✘：zui小孔徑達0.1mm,zui小光斑達0.1mm；
7.樣品觀察↟✘：配備全景和區域性兩個工業高畫質攝像頭； 
8.準直器↟✘：0.3×0.05mm│··✘•、Ф0.1mm│··✘•、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準直器組合； 
9.儀器尺寸↟✘：690（W）x 575（D）x 660（H）mm；
10.樣品室尺寸↟✘：520（W）x 395（D）x150（H）mm；
11.樣品臺尺寸↟✘：393（W）x 258 （D）mm；
12.X/Y/Z平臺移動速度↟✘：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s；
13.X/Y/Z平臺重複定位精度↟✘：小於0.1um；

效能特點

1.精密的三維移動平臺； 
2.的樣品觀測系統； 
3.先進的影象識別； 
4.輕鬆實現深槽樣品的檢測； 
5.四種微孔聚焦準直器╃◕·▩╃，自動切換； 
6.雙重保護措施╃◕·▩╃，實現無縫防撞； 
7.採用大面積高解析度探測器╃◕·▩╃，有效降低檢出限╃◕·▩╃，提高測試精度╃│₪│。

安裝要求↟✘：

1   環境溫度要求↟✘：15℃-30℃

2   環境相對溼度↟✘：<70%

3   工作電源↟✘：交流220±5V

4   周圍不能有強電磁干擾╃│₪│。