EDX4500H X熒光光譜儀

EDX4500H X熒光光譜儀效能特點

高效超薄窗X光管•╃☁▩₪，指標達到較高水平
新的數字多道技術•╃☁▩₪，讓測試更快•╃☁▩₪，計數率達到100000CPS•╃☁▩₪，精度更高▩✘╃₪│。在合金檢測中效果更好
SDD矽漂移探測器•╃☁▩₪，良好的能量線性•☁₪₪、能量解析度和能譜特性•╃☁▩₪，較高的峰背比
低能X射線激發待測元素•╃☁▩₪，對Si•☁₪₪、P等輕元素激發效果好
智慧抽真空系統•╃☁▩₪，遮蔽空氣的影響•╃☁▩₪，大幅擴充套件測試的範圍
自動穩譜裝置保證了儀器工作的*性
高信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片•╃☁▩₪，免去手工操作帶來的繁瑣
解譜技術使譜峰分解•╃☁▩₪，使被測元素的測試結果具有相等的分析精度
多引數線性迴歸方法•╃☁▩₪，使元素間的吸收•☁₪₪、增強效應得到明顯的抑制
內建高畫質晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要引數（管壓•☁₪₪、管流•☁₪₪、真空度）一目瞭然

技術引數

產品型號✘₪：EDX 4500H
產品名稱✘₪：X熒光光譜儀
測量元素範圍✘₪：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析範圍✘₪： ppm—99.99%（不同元素•╃☁▩₪，分析範圍不同）
同時分析元素✘₪：一次性可測幾十種元素
測量時間✘₪：30秒-200秒
探測器能量解析度為✘₪：145±5eV
管壓✘₪：5KV-50KV
管流✘₪：50μA-1000μA
測量物件狀態✘₪：粉末•☁₪₪、固體•☁₪₪、液體
輸入電壓✘₪：AC 110V/220V
環境溫度✘₪：15℃-30℃
環境溼度✘₪：35%-70%
樣品腔體積✘₪：320mm×100mm
外形尺寸✘₪：660mm×510mm×350mm
重量✘₪：65Kg

標準配置

高效超薄窗X光管
SDD矽漂移探測器
數字多道技術
光路增強系統
高信噪比電子線路單元
內建高畫質晰攝像頭
自動切換型準直器和濾光片
自動穩譜裝置
三重安全保護模式
可靠的整體鋼架結構
90mm×70mm的狀態顯示液晶屏
真空泵

EDX4500H X熒光光譜儀應用領域

合金檢測•☁₪₪、全元素分析•☁₪₪、有害元素檢測（RoHS•☁₪₪、鹵素）